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      • 產品名稱:MiniTest1100涂鍍層測厚儀

      • 產品型號:MiniTest1100
      • 產品廠商:德國EPK公司Elektro-Physik
      • 產品文檔:
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      簡單介紹:
      德國EPK公司MiniTest1100涂鍍層測厚儀,所有型號均可配所有探頭;MiniTest1100涂鍍層測厚儀可通過RS232接口連接MiniPrint打印機和計算機;可使用一片或二片標準箔校準。
      詳情介紹:
      德國EPK公司MiniTest1100涂鍍層測厚儀

      德國EPK(Elektrophysik)公司 MiniTest1100涂鍍層測厚儀特點:
      MiniTest1100/2100/3100/4100包括四種不同的主機,各自具有不同的數據處理功能;
      所有型號均可配所有探頭;
      可通過RS232接口連接MiniPrint打印機和計算機;
      可使用一片或二片標準箔校準。

      德國EPK公司MiniTest1100涂鍍層測厚儀功能
      型號
      1100
      2100
      3100
      4100
      MINITEST 存儲的數據量
      應用行數(根據不同探頭或測試條件而記憶的校準基礎數據數)
      1
      1
      10
      99
      每個應用行下的組(BATCH)數(對組內數據自動統計,并可設寬容度極限值)
      -
      1
      10
      99
      可用各自的日期和時間標識特性的組數
      -
      1
      500
      500
      數據總量
      1
      10000
      10000
      10000
      MINITEST統計計算功能
      讀數的六種統計值x,s,n,max,min,kvar
      -
      讀數的八種統計值x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk
      -
      -
      組統計值六種x,s,n,max,min,kvar
      -
      -
      組統計值八種x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk
      -
      -
      存儲顯示每一個應用行下的所有組內數據
      -
      -
      -
      分組打印以上顯示和存儲的數據和統計值
      -
      -
      顯示并打印測量值、打印的日期和時間
      -
      其他功能
      透過涂層進行校準(CTC)
      -
      在粗糙表面上作平均零校準
      利用計算機進行基礎校準
      補償一個常數(Offset)
      -
      -
      外設的讀值傳輸存儲功能
      -
      保護并鎖定校準設置
      更換電池是存儲數值
      設置極限值
      -
      -
      公英制轉換
      連續測量模式快速測量,通過模擬柱識別*大*小值
      -
      -
      連續測量模式中測量穩定后顯示讀數
      -
      -
      浮點和定點方式數據傳送
      組內單值延遲顯示
      -
      連續測量模式中顯示*小值
      MiniTest涂層測厚儀可選探頭參數(探頭圖示)
      所有探頭都可配合任一主機使用。在選擇*適用的探頭時需要考慮覆層厚度,基體材料以及基體的形狀、厚度、大小、幾何尺寸等因素。
      F型探頭:測量鋼鐵基體上的非磁性覆層 
      N型探頭:測量有色金屬基體上的絕緣覆層 
      FN兩用探頭:同時具備F型和N性探頭的功能

      德國EPK公司MiniTest1100涂鍍層測厚儀探頭參數

      探頭
      量程
      低端
      分辨率
      誤差
      *小曲率
      半徑(凸/凹)
      *小測量
      區域直徑
      *小基
      體厚度
      探頭尺寸



       
       
       
       
       
       
       
      F05
      0-500μm
      0.1μm
      ±(1%±0.7μm)
      1/5mm
      3mm
      0.2mm
      φ15x62mm
      F1.6
      0-1600μm
      0.1μm
      ±(1%±1μm)
      1.5/10mm
      5mm
      0.5mm
      φ15x62mm
      F1.6/90
      0-1600μm
      0.1μm
      ±(1%±1μm)
      平面/6mm
      5mm
      0.5mm
      φ8x8x170mm
      F3
      0-3000μm
      0.2μm
      ±(1%±1μm)
      1.5/10mm
      5mm
      0.5mm
      φ15x62mm
      F10
      0-10mm
      5μm
      ±(1%±10μm)
      5/16mm
      20mm
      1mm
      φ25x46mm
      F20
      0-20mm
      10μm
      ±(1%±10μm)
      10/30mm
      40mm
      2mm
      φ40x66mm
      F50
      0-50mm
      10μm
      ±(3%±50μm)
      50/200mm
      300mm
      2mm
      φ45x70mm


       
       
       
      FN1.6
      0-1600μm
      0.1μm
      ±(1%±1μm)
      1.5/10mm
      5mm
      F0.5mm
      N50μm
      φ15x62mm
      FN1.6P
      0-1600μm
      0.1μm
      ±(1%±1μm)
      平面
      30mm
      F0.5mm
      N50μm
      φ21x89mm
      FN2
      0-2000μm
      0.2μm
      ±(1%±1μm)
      1.5/10mm
      5mm
      F0.5mm
      N50μm
      φ15x62mm



       
       
       
       
       
       
       
       
       
      N02
      0-200μm
      0.1μm
      ±(1%±0.5μm)
      1/10mm
      2mm
      50μm
      φ16x70mm
      N.08Cr
      0-80μm
      0.1μm
      ±(1%±1μm)
      2.5mm
      2mm
      100μm
      φ15x62mm
      N1.6
      0-1600μm
      0.1μm
      ±(1%±1μm)
      1.5/10mm
      2mm
      50μm
      φ15x62mm
      N1.6/90
      0-1600μm
      0.1μm
      ±(1%±1μm)
      平面/10mm
      5mm
      50μm
      φ13x13x170mm
      N10
      0-10mm
      10μm
      ±(1%±25μm)
      25/100mm
      50mm
      50μm
      φ60x50mm
      N20
      0-20mm
      10μm
      ±(1%±50μm)
      25/100mm
      70mm
      50μm
      φ65x75mm
      N100
      0-100mm
      100μm
      ±(1%±0.3mm)
      100mm/平面
      200mm
      50μm
      φ126x155mm
      CN02
      10-200μm
      0.2μm
      ±(1%±1μm)
      平面
      7mm
      無限制
      φ17x80mm
      F1.6/90、F2/90、N1.6/90、N2/90為直角探頭,用于管內測量。
      N.08Cr適合銅上鉻,FN2也適合銅上鉻。
      CN02用于絕緣體上的有色金屬覆層。
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