CSK-IIA-1試塊測試方法

CSK-IIA-1試塊測試方法

該類試塊依據承壓設備I型焊接接頭超聲檢測要求而設計，適用于將斜探頭、直探頭檢測工件厚度范圍為6mm～200mm的Ⅰ型焊接接頭。試塊設計內容見下表：

橫波靈敏度的設定：將選用已校驗好的的斜探頭

探頭置于示意圖9中a位置，前后移動探頭使直射聲束在φ2×40mm橫孔上得到*大反射回波。將回波幅度調整至滿屏的80%高度，記錄此時的dB值，此為**點。

探頭置于示意圖9中b位置，前后移動探頭使直射聲束在φ2×40mm橫孔上得到*大反射回波。將回波幅度調整至滿屏的80%高度，記錄此時的dB值，此為**點。

探頭置于示意圖9中c位置，前后移動探頭使直射聲束在φ2×40mm橫孔上得到*大反射回波。將回波幅度調整至滿屏的80%高度，記錄此時的dB值，此為第三點。

探頭置于示意圖9中d位置，前后移動探頭使直射聲束在φ2×40mm橫孔上得到*大反射回波。將回波幅度調整至滿屏的80%高度，記錄此時的dB值，此為第四點。

探頭置于示意圖9中e位置，前后移動探頭使1次反射聲束在φ2×40mm橫孔上得到*大反射回波。將回波幅度調整至滿屏的80%高度，記錄此時的dB值，此為第五點。

探頭置于示意圖9中f位置，前后移動探頭使1次反射聲束在φ2×40mm橫孔上得到*大反射回波。將回波幅度調整至滿屏的80%高度，記錄此時的dB值，此為第六點。

將以上六點連成一條曲線即為標準中規定的基準線。

縱波靈敏度設定：將選用已校驗好的直探頭

置于示意圖9中g位置，前后左右移動探頭使直射聲束在φ2×40mm橫孔上得到*大反射回波。將回波幅度調整至滿屏的80%高度，記錄此時的dB值，此為**點。

探頭置于示意圖9中h位置，前后左右移動探頭使直射聲束在φ2×40mm橫孔上得到*大反射回波。將回波幅度調整至滿屏的80%高度，記錄此時的dB值，此為**點。

探頭置于示意圖9中i位置，前后左右移動探頭使直射聲束在φ2×40mm橫孔上得到*大反射回波。將回波幅度調整至滿屏的80%高度，記錄此時的dB值，此為第三點。

探頭置于示意圖9中j位置，前后左右移動探頭使直射聲束在φ2×40mm橫孔上得到*大反射回波。將回波幅度調整至滿屏的80%高度，記錄此時的dB值，此為第四點。

探頭置于示意圖9中k位置，前后左右移動探頭使直射聲束在φ2×40mm橫孔上得到*大反射回波。將回波幅度調整至滿屏的80%高度，記錄此時的dB值，此為第五點。

探頭置于示意圖9中L位置，前后左右移動探頭使直射聲束在φ2×40mm橫孔上得到*大反射回波。將回波幅度調整至滿屏的80%高度，記錄此時的dB值，此為第六點。

將以上六點連成一條曲線即為標準中規定的基準線，此時的靈敏度即為基準靈敏度。