HIOKI 3532-50高速LCR測試儀

HIOKI3532-50高速LCR測試儀

HIOKI3532-50高速LCR測試儀基本精度±0.08%，測量頻率可調:DC、1mHz~100kHz(3522-50)/42Hz~5MHz(3532-50)3535
基本精度Z:±0.5%，θ:±0.3°寬頻帶100kHz~120MHz，*快5ms(3522-50/3532-50)的高速LCR測試儀

HIOKI 3532-50高速LCR測試儀寬頻帶、測量頻率可調的3522/3532LCR測試儀，將測試速度提高到了5ms(是原有型號的4倍)。
3522-50高速LCR測試儀可提供DC和1mHz~100kHz的測試頻率，
3532-50高速LCR測試儀的測試頻帶為42Hz~5MHz。能提供與元器件工作條件更為接近的測試條件。
3535高速LCR測試儀為100kHz~120MHz的寬頻量程且價位低。具有6ms高速測定的內置比較器和負載補償、BIN(分類)測量功能，應用范圍廣，例如芯片互感、高速磁頭測試以及其他相關研發需求。可將前置放大器與3535拆離，使用指定電纜將其延伸，并盡可能接近被測物，以減小測量導線的影響。
簡易的操作和低廉的價格，賦予這些元器件測試儀器出眾的性價比。無論是用于實驗室評估運行特性，還是用于生產線，都是您的理想選擇。

HIOKI 3532-50高速LCR測試儀通過計算機進行外部控制

3522-50/3532-50通過安裝選件9593-01、RS-232C接口、或者GP-IB接口，除了電源ON/OFF以外，本機的所有其它功能都可以由計算機來實現控制。

HIOKI 3532-50高速LCR測試儀使用表格計算軟件的圖表

通過使用市場上有售的標準表格計算軟件，輸入計算機的測量數據即可實現圖表化。以下的例子為3532-50利用連續變化的頻率來測量1MHz石英振子的頻率特性，讀入EXCEL中，然后顯示的結果圖表。用4位分辨率設置頻率，如圖表所顯示，還可評估急劇變化的共振點特性。

HIOKI3532-50高速LCR測試儀與本機相同，*多可以選4項監測項目。選擇項目的數據被列成文件。
可設置如掃頻、數據直接輸出等項目。此外，每按返回鍵，即可輸出數據。

HIOKI3532-50高速LCR測試儀通過使用RS-232C接口，備有在計算機上設定頻率掃描的同時，利用EXCEL將測試數據文件化的采樣軟件。

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